IEEE EDTM(IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference)Àº IEEE Electron Devices Society¿¡¼ ÁÖ°üÇÏ´Â ±¹Á¦ ÇÐȸ´Ù. ¹ÝµµÃ¼ ¹× ÀüÀÚ ±â¼ú°ú °ü·ÃµÈ ÃֽŠ¿¬±¸ °á°ú¸¦ ¹ßÇ¥ÇÏ°í, ±³·ùÇϱâ À§ÇØ ¿¸°´Ù. ¹ÝµµÃ¼ »ê¾÷ Àü¹®°¡ ¹× ÇÐÀÚ µîÀÌ Âü¼®ÇØ ±â¼úÀûÀÎ Çõ½Å°ú ½ÃÀå µ¿Çâ µîÀ» ³íÀÇÇÏ¸ç ³×Æ®¿öÅ· ¹× ºñÁî´Ï½º ±âȸµµ Á¦°øÇÑ´Ù.
¿¡ÀÌÁ÷·£µå´Â À̹ø ±¹Á¦ ÇÐȸÀÇ ÈÄ¿ø»ç·Î Âü°¡ÇØ È¸»çÀÇ ±â¼ú·ÂÀ» ¼±º¸¿´´Ù. ÀÌ È¸»ç´Â TSMCÀÇ ±¹³» À¯ÀÏ VCA(Value Chain Alliance, °¡Ä¡ »ç½½ µ¿¸Í)·Î¼, ±¹³» ¹ÝµµÃ¼ R&D(¿¬±¸¡¤°³¹ß) ¹ßÀüÀ» À§ÇØ MPW(Multi-Project Wafer, ¹ÝµµÃ¼ÀÇ ½ÃÁ¦Ç° Á¦ÀÛ) µîÀÇ ¼ºñ½º¸¦ Á¦°ø ÁßÀÎ °÷ÀÌ´Ù. À̹ø ÇÐȸ¸¦ ÅëÇØ ±¹³»¿Ü ¿¬±¸Áø°úÀÇ Çù¾÷À» °ÈÇÏ°í »ê¾÷ ¹× ÇÐ°è °£ÀÇ Áö½Ä °øÀ¯¿Í ±â¼ú ¹ßÀüÀ» ÃËÁøÇÒ °èȹÀÌ´Ù.
¿¡ÀÌÁ÷·£µåÀÇ ½Å»ç¾÷ÆÀÀåÀÎ À̼®¿ë »ó¹«´Â "¿¡ÀÌÁ÷·£µå´Â TSMCÀÇ Àü ¼¼°è 8°³ VCA Áß À¯ÀÏÇÑ ±¹³» ±â¾÷"À̶ó¸ç "Çѱ¹ÀÇ ±â¼úÀ» ±Û·Î¹ú ½ÃÀå¿¡ ¼±º¸ÀÏ Áغñ¸¦ ÇÏ°í ÀÖ´Ù"°í ¸»Çß´Ù. À̾î "ÇöÀç ±Û·Î¹ú ½ÃÀåÀÇ ¸¹Àº °ü½ÉÀÌ ÀÖ´Â »óȲ"À̶ó¸ç "¹Ì±¹°ú Áß±¹ÀÇ ±â¾÷µé·ÎºÎÅÍ ·¯ºêÄÝÀ» ¹Þ°í ÀÖ´Ù"°í µ¡ºÙ¿´´Ù.
ÇÑÆí ÃÖ±Ù ¹Ì±¹ÀÇ ¹ÝµµÃ¼ Àü¹® ¸Åü 'Semiconductor Review'´Â ¿¡ÀÌÁ÷·£µå¸¦ 2023³â ½Ã½ºÅÛ¿ÂĨ(SoC) ºÐ¾ßÀÇ 10´ë ±â¾÷ Áß Çϳª·Î ¼±Á¤Çß´Ù. ÇØ´ç ¸Åü´Â ¿¡ÀÌÁ÷·£µåÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ¼³°è ÀÚµ¿È Ç÷§ÆûÀ» ³ô°Ô Æò°¡ÇÑ °ÍÀ¸·Î ¾Ë·ÁÁ³´Ù. ȸ»ç ÃøÀº À̹ø ¼±Á¤À» ÅëÇØ ¿¡ÀÌÁ÷·£µå´Â ¸£³×»ç½º(Renesas), ÀÎÇÇ´Ï¿Â(Infineon), ½Ã³ñ½Ã½º(Sysnopsys)¿Í °°Àº ±Û·Î¹ú ±â¾÷µé°ú ¾î±ú¸¦ ³ª¶õÈ÷ ÇÏ°Ô µÆ´Ù°í Çß´Ù.
'IEEE EDTM 2023' ¿¡ÀÌÁ÷·£µå ºÎ½º Àü°æ/»çÁøÁ¦°ø=¿¡ÀÌÁ÷·£µå |