티엔에스에이아이, 'KES 2024'에서 혁신적인 AI 기반 검사 장비 주목

티엔에스에이아이 (TNSAI)는 10월 22일부터 25일까지 서울 코엑스에서 진행된 'KES 2024(한국전자전)'에 참가했다고 밝혔다.

사진제공=티엔에스에이아이

올해로 55회를 맞이한 이번 전시회는 전자 부품, AX, AI, 로보틱스, 모빌리티, 자율주행 등 다양한 첨단 전자 산업 분야에서 550개 기업, 1400개 부스 규모로 진행되었다.


TNSAI는 이번 박람회에서 다품종 소량 생산 제품의 외관 불량 검사를 위해 자체 개발한 On-Device AI 기반 자동화 검사 장비를 선보여 박람회 현장에 참여한 업계 관계자와 바이어에게 주목을 받았다. 특히, 이번 전시회에서 첫 선을 보인 'SWP-2000EX'는 실시간 비정형 불량 검사가 가능하여, 검사 속도와 정확도를 극대화해 기존의 육안 검사를 100% 대체할 수 있는 장비로 많은 관계자들의 관심을 끌었다.

TNSAI의 On-Device AI 기반 자동화 검사 장비는 세계 최초로 'Swing Robot'을 탑재해, 빛의 난반사로 인해 검사가 어려웠던 입체형 금속 제품과 플라스틱 제품부터 반도체, PCB, 2차 전지 등에서 발생하는 미세 불량을 AI 딥러닝 기반의 소프트웨어 'EZDAVA'를 통해 검출할 수 있다. 이를 통해 TNSAI는 제조 산업의 다양한 분야에서 검사 장비를 찾는 고객들의 눈길을 사로잡았다.

또한 이번 전시회에서 소개한 자동화 장비 'EZTrack'은 SWP-2000EX와 연계되는 AutoTrack 형태의 자동 물류 시스템으로, 제조 공정의 물류 및 검사 공정을 자동화하는 혁신적인 솔루션이다. 이러한 시스템을 통해 공정의 효율성과 정확성을 대폭 향상시킬 것으로 기대된다고 TNSAI 관계자는 밝혔다.

사진제공=티엔에스에이아이

TNSAI는 이번 박람회에서 세계 최초로 납품한 On-Device AI 기반 자동차 브레이크 디스크 자동화 검사 장비 'BDL-2000EX'의 데모 버전도 공개했다. 관람객들은 부스 현장에서 브레이크 디스크의 구성 및 외형 검사, 센터포인트 검사, OCR 검사 등을 직접 체험했다.

태석호 대표는 "이번 전시회를 통해 당사의 대표적인 검사 장비들과 다양한 산업 분야에 적용 가능한 불량 객체 탐지 학습 모델인 Vertical Foundation Model 구축을 선보였는데 업계 관계자들과 바이어들의 뜨거운 관심을 받았다. 실물 시스템을 구현한 기계 장비가 많은 주목을 받은 이유"라며, " 당사의 대표적인 검사 장비들로 AI 기반 자동화 검사 솔루션을 제공해 제조 현장에서 생산성과 효율성을 극대화할 수 있을 것"이라고 말했다.